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半导体分立器件静态测试设备PMST-3500V
普赛斯半导体分立器件静态测试设备PMST-3500V,集多种测量和分析功能一体,可以精准测量IGBT功率半导体器件的静态参数,具有高电压和大电流特性、uQ级精确测量、nA级电流测量能力等特点。支持高压模式下测量功率器件结
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2026-09-14 |
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E系列功率器件功能高压测试模块
普赛斯仪表专业研究和开发半导体材料与器件测试的专业智能装备，产品覆盖半导体领域从晶圆到器件生产全产业链。推出基于高精度数字源表(SMU）的第三代半导体功率器件静态参数测试方案，为SiC和GaN器件提供可靠的测试
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2026-09-14 |
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钙钛矿太阳能电池MPPT并行老化测试插卡式源表
目前，钙钛矿太阳能电池的效率正在不断提高，但是钙钛矿材料本身的稳定性严重影响了其商业化的进程。根据国际规定的光伏组件老化测试标准（IEC61646,2008），光伏器件必须可以在85%湿度和85 ℃温度的条件下连续工作1
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2026-09-14 |
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半导体功率循环测试数据采集卡
概述： A400数据采集卡，是一款普赛斯自主设计开发的插卡式，支持可变速率采样和大容量数据存储的高精度数据采集卡。 采集卡使用高性能ADC芯片，分辨率可达16bits，z高支持1MS/s采样率。单采集卡支持4通道，且通道间
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2026-09-14 |
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国产DPX00B系列双通道数字源表
产品简介DPX00B双通道高精度台式脉冲源表是在单通道脉冲台式源表基础上新打造的一款高精度、大动态、数字触摸源表，汇集电压、电流输入输出及测量等多种功能，单通道z大输出电压达300V，z大脉冲输出电流达30A，支持
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2026-09-14 |
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多通道数字源表台式源表国产品牌
SM13041是一款4通道独立的高性能精密源表，能够同时输出和测量电压电流，蕞大支持±30V，±500mA直流/脉冲输出，z小脉宽可达100μs。支持千兆以太网及RS422串口通信，支持源表标准SCPI指令集，支持多台源表同步触发
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2026-09-14 |
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LCR测试仪精密数字电桥
PXIe-5302A是一款基于PXIe接口的高性能数字电桥，主要用于无源、光电子、半导体等器件或材料的电感值(L)、电容量(C)以及直流电阻(R)的测量。本产品支持标准SCPI指令集，支持标准PXIe机箱，可快速集成到PXIe测试系统
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2026-09-14 |
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PXIe接口LCR数字电桥
PXIe-5302A是一款基于PXIe接口的高性能数字电桥，主要用于无源、光电子、半导体等器件或材料的电感值(L)、电容量(C)以及直流电阻(R)的测量。本产品支持标准SCPI指令集，支持标准PXIe机箱，可快速集成到PXIe测试系统
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2026-09-14 |
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