多通道SMU源表PXIe插卡式

武汉普赛斯多通道SMU源表PXIe插卡式优势：

高通道密度:单插槽4/8通道独立SMU，支持并行测试、单机箱z大可拓展至136通道

高采样率：采样率z高可达1M S/s
       高精度:z小电压电流分辨率低至100μV/10pA
       功率能力:z大支持单通道3W功率输出或吸收
       支持二次开发能力:支持标准SCPI指令集，提供完善的驱动及示例代码
       国产自主可控:性能对标进口、交期短、本地化交付支持
       一站式解决方案:提供全套PXle测试系统，包含系统卡/远程卡、机箱和各类功能板及配套软件，满足全套系统解决方案需求

产品特点

四个完全独立的源测量通道，支持并行测试  

z大支持±30V/±1A脉冲输出与测量

z大支持单通道3W输出/吸收功率

支持标准SCPI指令集，提供完善的驱动及示例代码

支持脉冲输出，脉宽低至100μs，占空比0~100%可调

支持DIO外部同步触发接口，支持2/4线测量 

支持连续、sweep、序列等多种工作模式

z大电流电压分辨率低至10pA/100μV

       应用范围

半导体晶圆、芯片特性测试
       LD激光器特性测试?
       太阳能电池充放电、寿命测试?
       传感器及材料测试

联系我们：

武汉普赛斯仪表有限公司 陶女士

Web:http://www.whpssins.com

Add:武汉市东湖新技术开发区光谷三路777号移动终端1号楼3层

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