SDCOM的特点

• 能够测量小至1mm的晶体到或更大的样品

• 各种样品架及输送夹具，用于线锯、抛光等

• 侧晶方向标记选项

• 无水冷却

• **精度：0.01°(视晶体质量而定)

• 确定单晶的完全晶格取向

• 使用Omega扫描方法的超高速晶体定位测量

• 气冷式X射线管，无需水冷

• 适合于研究和生产质量控制

• 手动操作(没有自动化选项)

  
  

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SDCOM的特点

• 能够测量小至1mm的晶体到或更大的样品

• 各种样品架及输送夹具，用于线锯、抛光等

• 侧晶方向标记选项

• 无水冷却

• **精度：0.01°(视晶体质量而定)

• 确定单晶的完全晶格取向

• 使用Omega扫描方法的超高速晶体定位测量

• 气冷式X射线管，无需水冷

• 适合于研究和生产质量控制

• 手动操作(没有自动化选项)

  
  

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