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多通道数字源表台式源表国产品牌 SM13041是一款4通道独立的高性能精密源表,能够同时输出和测量电压电流,蕞大支持±30V,±500mA直流/脉冲输出,z小脉宽可达100μs。支持千兆以太网及RS422串口通信,支持源表标准SCPI指令集,支持多台源表同步触发
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2026-08-04 |
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LCR测试仪精密数字电桥 PXIe-5302A是一款基于PXIe接口的高性能数字电桥,主要用于无源、光电子、半导体等器件或材料的电感值(L)、电容量(C)以及直流电阻(R)的测量。本产品支持标准SCPI指令集,支持标准PXIe机箱,可快速集成到PXIe测试系统
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PXIe接口LCR数字电桥 PXIe-5302A是一款基于PXIe接口的高性能数字电桥,主要用于无源、光电子、半导体等器件或材料的电感值(L)、电容量(C)以及直流电阻(R)的测量。本产品支持标准SCPI指令集,支持标准PXIe机箱,可快速集成到PXIe测试系统
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4通道光功率计通用光功率测量仪 产品概述PXIe-6241是一款PXIe接口的4通道快速光功率计,采样速率高达1MS/s,波长范围1250nm~1650nm,光功率测量范围+10dBm~-80dBm,支持模拟量输出,支持PXIeTrigger及前面板同步触发,利用PXIe-6241的高速采样及自
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MEMS传感器电性能分析数字源表PXIe插卡式 PXIe-5140/5141是一款4通道独立的高性能精密源表,能够同时输出和测量电压电流,z大支持±10V±100mA/±30V±500mA输出,z小脉宽可达100μs。支持源表标准SCPI指令集,支持PXIeTrigger及前面板DIO同步触发,提高了系
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半导体电学特性测试系统CV+IV测试仪 概述: SPA-6100半导体参数分析仪是武汉普赛斯自主研发、精益打造的一款半导体电学特性测试系统,具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)以及高流高
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霍尔延时响应测试系统电流传感器测试设备 产品简介 霍尔延时响应测试系统电流传感器测试设备集多种测量和分析功能一体,可精准测量各种电流传感器(霍尔电流传感器、罗氏线圈、皮尔森线圈等)的静态与动态参数,单台大电流源电流可高达1000A。该系统可测量不
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1200V+100A半导体参数分析仪CV+IV扫描仪 概述: SPA-6100型1200V+100A半导体参数分析仪CV+IV扫描仪是武汉普赛斯自主研发、精益打造的一款半导体电学特性测试系统,具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电
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2026-08-04 |