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传感器响应时间测试大电流源
HCPL100传感器响应时间测试大电流源特点和优势： 50~500us的脉冲宽度连续可调； 15us的超快上升沿； 同步测量电压； 单台z大可达1000A输出； 可极性反转； 0.1%测试精度；详询18140663476技术指标电流脉宽 50μs~500
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2026-02-28 |
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柔性材料动态测试数字源表
柔性电子材料“动态”测试难点 柔性电子材料在使用过程中会被反复弯折扭曲，在此过程中材料表面和内部的应力状态和微观结构都会逐渐发生变化,进而影响材料的电学性能和寿命。用多次反复弯折扭曲等方法来测试柔性材料
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2026-02-28 |
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微电流IV曲线扫描数字源表_国产源表
普赛斯历时多年打造了高精度、大动态范围、率先国产化的源表系列产品，集电压、电流的输入输出及测量等功能于一体。可作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表，还可用作精密电子负载。其高性能架构还允许
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2026-02-28 |
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插卡式功率半导体IGBT静态参数测试机
普赛斯ATE-3146静态测试机是一款专注于Si/SiC MOSFET、IGBT、GaNHEMT等功率芯片及器件的静态参数测试系统；采用PXIe通信架构方案，支持板卡灵活扩展与高精度电学特性分析；支持单卡1200V大电压、单卡400A大电流输出
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2026-02-28 |
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半导体芯片器件参数分析仪ivcv曲线测试机
SPA6100半导体参数分析仪是武汉普赛斯自主研发、精益 打造的一款半导体电学特性测试系统，具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压（I-V）、电容-电压（C-V）以及高流高压下
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2026-02-28 |
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多通道数字源表插卡式PXle-514*系列
PXIe-514X系列是4通道独立的PXIe插卡式高性能精密源表，能够同时输出和测量电压电流，蕞大支持30V,1000mA直流/脉冲输出，z小脉宽可达100μs。支持源表标准SCPI指令集，支持PXIeTrigger及前面板DIO同步触发，提高了系
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2026-02-28 |
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1200V+100A半导体参数分析仪CV+IV扫描仪
概述： SPA-6100型1200V+100A半导体参数分析仪CV+IV扫描仪是武汉普赛斯自主研发、精益打造的一款半导体电学特性测试系统，具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电
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2026-02-28 |
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3500V功率器件静态参数测试设备
普赛斯3500V功率器件静态参数测试设备,集多种测量和分析功能一体,可以精准测量IGBT功率半导体器件的静态参数,具有高电压和大电流特性、uQ级精确测量、nA级电流测量能力等特点。支持高压模式下测量功率器件结电容,如
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2026-02-28 |
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