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微电流IV曲线扫描数字源表_国产源表
普赛斯历时多年打造了高精度、大动态范围、率先国产化的源表系列产品，集电压、电流的输入输出及测量等功能于一体。可作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表，还可用作精密电子负载。其高性能架构还允许
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2025-09-28 |
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半导体功率循环测试数据采集卡
概述： A400数据采集卡，是一款普赛斯自主设计开发的插卡式，支持可变速率采样和大容量数据存储的高精度数据采集卡。 采集卡使用高性能ADC芯片，分辨率可达16bits，z高支持1MS/s采样率。单采集卡支持4通道，且通道间
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2025-09-28 |
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PIV特性曲线扫描测试恒流脉冲源us级脉宽
LIV71010恒流脉冲源适用于可见光、VCSEL阵列等大功率激光器的测试，支持脉冲、直流PIV特性曲线扫描测试和特性参数计算，支持光谱特性测试（需要外接光谱仪）。仪表集脉冲电流源、电流表、电压表和光功率计等功能于一
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2025-09-28 |
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IGBT|SiC功率半导体器件测试设备
IGBT|SiC功率半导体器件主要测试参数 近年来IGBT成为电力电子领域中尤为瞩目的电力电子器件,并得到越来越广泛的应用,那么IGBT的测试就变的尤为重要了。lGBT的测试包括静态参数测试、动态参数测试、功率循环、HTRB可
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2025-09-28 |
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国产DPX00B系列双通道数字源表
产品简介DPX00B双通道高精度台式脉冲源表是在单通道脉冲台式源表基础上新打造的一款高精度、大动态、数字触摸源表，汇集电压、电流输入输出及测量等多种功能，单通道z大输出电压达300V，z大脉冲输出电流达30A，支持
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2025-09-28 |
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四象限电源VI曲线数字源表
四象限电源VI曲线数字源表认准普赛斯仪表，普赛斯仪表推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度数字源表，相比于传统S系列源表，准确度提升至±0.03%，直流电流升级至3A，可为半导体行业提供更加精准、稳定的测试方案
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2025-09-28 |
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双极性电流源表微弱电流IV曲线测试
IV曲线测试（电流-电压特性曲线测试）是一种用于评估电子元件（如二极管、晶体管、太阳能电池等）电气特性的基本方法。其原理是通过测量元件在不同电压下的电流响应，绘制出电流（I）与电压（V）之间的关系曲线，从
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2025-09-28 |
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PXle系列插卡式源表4通道高精密源测
PXIe-514X系列是4通道独立的PXIe插卡式高性能精密源表，能够同时输出和测量电压电流，蕞大支持±30V±1000mA直流/脉冲输出，z小脉宽可达100μs。支持源表标准SCPI指令集，支持PXIeTrigger及前面板DIO同步触发，提高
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2025-09-28 |
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