| 图片 |
标 题 |
更新时间 |
 |
插卡式功率半导体IGBT静态参数测试机
普赛斯ATE-3146静态测试机是一款专注于Si/SiC MOSFET、IGBT、GaNHEMT等功率芯片及器件的静态参数测试系统；采用PXIe通信架构方案，支持板卡灵活扩展与高精度电学特性分析；支持单卡1200V大电压、单卡400A大电流输出
|
2026-09-14 |
 |
半导体芯片器件参数分析仪ivcv曲线测试机
SPA6100半导体参数分析仪是武汉普赛斯自主研发、精益 打造的一款半导体电学特性测试系统，具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压（I-V）、电容-电压（C-V）以及高流高压下
|
2026-09-14 |
 |
多通道数字源表插卡式PXle-514*系列
PXIe-514X系列是4通道独立的PXIe插卡式高性能精密源表，能够同时输出和测量电压电流，蕞大支持30V,1000mA直流/脉冲输出，z小脉宽可达100μs。支持源表标准SCPI指令集，支持PXIeTrigger及前面板DIO同步触发，提高了系
|
2026-09-14 |
 |
微电流源高精密数字源表国产品牌
微电流源高精密数字源表国产品牌找普赛斯仪表，普赛斯数字源表国产自主研发，对标美国2400，B2901；可实现“源”的输出和“表”的测量同步进行，提高测试效率；支持四象限工作，测量范围广，电压高至300V，电流低至1
|
2026-09-14 |
 |
4通道光功率计通用光功率测量仪
产品概述PXIe-6241是一款PXIe接口的4通道快速光功率计，采样速率高达1MS/s，波长范围1250nm~1650nm，光功率测量范围+10dBm～-80dBm，支持模拟量输出，支持PXIeTrigger及前面板同步触发，利用PXIe-6241的高速采样及自
|
2026-09-14 |
 |
LCR表精密电桥PXIe接口
PXIe-5302A是一款基于PXIe接口的高性能数字电桥，主要用于无源、光电子、半导体等器件或材料的电感值(L)、电容量(C)以及直流电阻(R)的测量。本产品支持标准SCPI指令集，支持标准PXIe机箱，可快速集成到PXIe测试系统
|
2026-09-14 |
 |
MEMS传感器电性能分析数字源表PXIe插卡式
PXIe-5140/5141是一款4通道独立的高性能精密源表，能够同时输出和测量电压电流，z大支持±10V±100mA/±30V±500mA输出，z小脉宽可达100μs。支持源表标准SCPI指令集，支持PXIeTrigger及前面板DIO同步触发，提高了系
|
2026-09-14 |
 |
半导体电学特性测试系统CV+IV测试仪
概述： SPA-6100半导体参数分析仪是武汉普赛斯自主研发、精益打造的一款半导体电学特性测试系统，具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)以及高流高
|
2026-09-14 |
新闻中心