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IGBT|SiC功率半导体器件测试设备
IGBT|SiC功率半导体器件主要测试参数 近年来IGBT成为电力电子领域中尤为瞩目的电力电子器件,并得到越来越广泛的应用,那么IGBT的测试就变的尤为重要了。lGBT的测试包括静态参数测试、动态参数测试、功率循环、HTRB可
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2026-08-04 |
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微电流IV曲线扫描数字源表_国产源表
普赛斯历时多年打造了高精度、大动态范围、率先国产化的源表系列产品，集电压、电流的输入输出及测量等功能于一体。可作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表，还可用作精密电子负载。其高性能架构还允许
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2026-08-04 |
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igbt静态参数测试系统igbt检测仪
普赛斯igbt静态参数测试系统igbt检测仪，集多种测量和分析功能一体，可以精准测量不同封装类型功率器件（如MOSFET、BJT、IGBT，以及SiC、GaN第三代半导体等）的静态参数，具有高电压和大电流特性、μΩ级导通电阻精
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2026-08-04 |
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插卡式功率半导体IGBT静态参数测试机
普赛斯ATE-3146静态测试机是一款专注于Si/SiC MOSFET、IGBT、GaNHEMT等功率芯片及器件的静态参数测试系统；采用PXIe通信架构方案，支持板卡灵活扩展与高精度电学特性分析；支持单卡1200V大电压、单卡400A大电流输出
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2026-08-04 |
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半导体芯片器件参数分析仪ivcv曲线测试机
SPA6100半导体参数分析仪是武汉普赛斯自主研发、精益 打造的一款半导体电学特性测试系统，具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压（I-V）、电容-电压（C-V）以及高流高压下
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2026-08-04 |
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多通道数字源表插卡式PXle-514*系列
PXIe-514X系列是4通道独立的PXIe插卡式高性能精密源表，能够同时输出和测量电压电流，蕞大支持30V,1000mA直流/脉冲输出，z小脉宽可达100μs。支持源表标准SCPI指令集，支持PXIeTrigger及前面板DIO同步触发，提高了系
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2026-08-04 |
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微电流源高精密数字源表国产品牌
微电流源高精密数字源表国产品牌找普赛斯仪表，普赛斯数字源表国产自主研发，对标美国2400，B2901；可实现“源”的输出和“表”的测量同步进行，提高测试效率；支持四象限工作，测量范围广，电压高至300V，电流低至1
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2026-08-04 |
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LCR表精密电桥PXIe接口
PXIe-5302A是一款基于PXIe接口的高性能数字电桥，主要用于无源、光电子、半导体等器件或材料的电感值(L)、电容量(C)以及直流电阻(R)的测量。本产品支持标准SCPI指令集，支持标准PXIe机箱，可快速集成到PXIe测试系统
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2026-08-04 |
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