发布信息当前位置: 首页 » 产品 » 机械设备 » 机械设备 »

MEMS传感器电性能分析数字源表PXIe插卡式


点击图片查看原图
单价: 面议
发货期限: 自买家付款之日起 天内发货
所在地: 湖北 武汉市
有效期至: 长期有效
最后更新: 2026-08-04 10:30
浏览次数: 0
询价
公司基本资料信息
 
 
产品详细说明

PXIe-5140/5141是一款4通道独立的高性能精密源表,能够同时输出和测量电压电流,z大支持±10V±100mA/±30V±500mA输出,z小脉宽可达100μs。支持源表标准SCPI指令集,支持PXIe Trigger及前面板DIO同步触发,提高了系统测试效率并降低成本,主要用于硅光晶圆|器件测试、逻辑|模拟IC、光电探测器(含MPPC/SiPM)、MEMS传感器、分立器件WAT多通道iv电性能测试。


产品特点

·支持连续、sweep、序列等多种工作模式
       ·z大电流电压分辨率低至10pA/100μV
       ·支持DI0外部同步触发接口,支持2/4线测量


应用范围
半导体晶圆、芯片特性测试 
LD激光器、硅光器件特性测试
太阳能电池充放电、寿命测试  

传感器及材料测试


联系我们:

武汉普赛斯仪表有限公司 陶女士

Web:http://www.whpssins.com

Add:武汉市东湖新技术开发区光谷三路777号移动终端1号楼3层

Tel:027-87993690

Mobile:18140663476

QQ:1993323884

Email:taof@whprecise.com



选择武汉普赛斯的理由

普赛斯加入PXISA联盟,依托所掌握的核心技术推出PXIe模块化测试平台,PXIe模块化测试平台以其高带宽、高集成度、产品复用性强等特点深受客户欢迎,经过长期的技术沉淀及软硬件迭代升级,确保生产设计符合PXIe标准的模块化仪器。普赛斯为客户提供全套PXIe测试系统,包含系统卡/远程卡、机箱和各种功能模块板卡,并将持续研发投入,推出更多符合市场需求的功能模块板卡,在此基础上提供测试系统解决方案满足客户需求。



     半导体电学特性测试系统CV+IV测试仪
     http://www.qsjx.com.cn/goods/show-62440.html
     功率半导体器件CV测试系统
     http://www.qsjx.com.cn/goods/show-62442.html
     igbt测试设备igbt测试仪
     http://www.qsjx.com.cn/goods/show-62452.html
     国产精密电流源+源表厂家
     http://www.qsjx.com.cn/goods/show-62453.html
     半导体性能测试数字源表SMU源表
     http://www.qsjx.com.cn/goods/show-62467.html
     霍尔延时响应测试系统电流传感器测试设备
     http://www.qsjx.com.cn/goods/show-62553.html
MEMS传感器电性能分析数字源表PXIe插卡式由武汉普赛斯仪表有限公司提供,该企业负责MEMS传感器电性能分析数字源表PXIe插卡式的真实性、准确性和合法性。本站对此不承担任何保证责任。
 
更多»本企业其它产品

[ 产品搜索 ]  [ 加入收藏 ]  [ 告诉好友 ]  [ 打印本文 ]  [ 关闭窗口 ]

 
    行业协会  备案信息  可信网站