分立器件wat多通道IV测试源表PXIe多通道源测量单元

PXIe-5142是4通道独立的PXIe插卡式高性能精密源表，能够同时输出和测量电压电流，蕞大支持30V,1A直流/脉冲输出，z小脉宽可达100μs。支持源表标准SCPI指令集，支持PXIe Trigger及前面板DIO同步触发，提高了系统测试效率并降低成本。主要用于硅光晶圆、逻辑|模拟IC、光电探测器（含MPPC/SiPM）、MEMS传感器、分立器件WAT多通道iv电性能测试。

产品特点

四个完全独立的源测量通道，支持并行测试  

z大支持±30V/±1A脉冲输出与测量

z大支持单通道3W输出/吸收功率

支持标准SCPI指令集，提供完善的驱动及示例代码

支持脉冲输出，脉宽低至100μs，占空比0~100%可调

支持DIO外部同步触发接口，支持2/4线测量 

支持连续、sweep、序列等多种工作模式

z大电流电压分辨率低至10pA/100μV

应用范围

半导体晶圆、芯片特性测试
      LD激光器特性测试?
      太阳能电池充放电、寿命测试?
      传感器及材料测试

联系我们：

武汉普赛斯仪表有限公司 陶女士

Web:http://www.whpssins.com

Add:武汉市东湖技术开发区光谷三路777号6号保税物流园6号楼4楼

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QQ：1993323884

Email:taof@whprecise.com

·无需外部主机，安装到PXIe机箱中即可实现完整的测试系统
       ·集成CPU、硬盘及内存，全系采用固态硬盘设计
       ·高性能处理器确保产品性能达到客户需求
       ·加固结构设计

·丰富的外设接口满足绝大多数需求。

高性能背板

·机箱背板均采用PCIeGen3总线技术提高系统通信效率，保证设备满足客户带宽需求
       ·混合机箱版本兼容PXI板卡
       ·给模块提供10MHz、100MHz参考时钟
       ·智能温控管理系统及电源检测，保证系统稳定运行
       ·分段式触发总线满足
       ·外置两个PFI接口可路由至内部触发总线，降低使用成本
       ·提供定时触发槽，支持星型触发和差分星型触发厂

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